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对话埃芯科技洪峰:芯片走向三维,量检测设备如何迈向规模交付?

当3D NAND的堆叠层数从数十层增加到数百层,晶圆制造需要测量的已不只是平面上的图形尺寸。更深的孔结构、更复杂的膜层,以及先进封装中被金属互联遮挡的内部缺陷,正在改变半导体量检测设备的技术要求。测得准之外,还要测得足够快,才能让测量结果进入高效率的生产过程。

在2026湾芯展期间,埃芯科技总经理洪峰接受OFweek维科网采访时,将这一变化与人工智能驱动的产业升级联系起来。他认为,先进制程微缩和三维集成正在并行发展,量检测技术也必须跟随工艺演进。对于2020年成立、近年逐步实现设备规模交付的埃芯科技而言,新工艺带来了机会,也将企业推向供应链与制造能力的新一轮考验。

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